安捷倫氣質(zhì)聯(lián)用儀Agilent 5975C技術(shù)參數(shù)
專利設(shè)計(jì)金石英四極桿增強(qiáng)了性能和可靠性，可達(dá)1050 u
新的痕量離子檢測(cè)技術(shù)降低了復(fù)雜基質(zhì)中的檢測(cè)限，提高了基線重復(fù)性。
惰性離子源-現(xiàn)在可以程序升溫至350度—增強(qiáng)了活性化合物和后洗脫組分的響應(yīng)。
同步SIM/掃描模式讓您在對(duì)感性趣離子進(jìn)行高靈敏度選擇性監(jiān)測(cè)的同時(shí)，獲得可進(jìn)行譜庫(kù)檢索的掃描數(shù)據(jù)。
新的氫EI信噪比指標(biāo)，可以在更安全的條件下實(shí)現(xiàn)更快速的分析——不會(huì)影響分析質(zhì)量
所有電離模式都在一個(gè)自動(dòng)化序列中；用標(biāo)準(zhǔn)EI離子源進(jìn)行電子轟擊（EI）電離，AutoCI功能使CI像EI一樣容易
高效與初級(jí)組件
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